X射線(xiàn)熒光測厚儀可用于測量一般工件、PCB及半導體產(chǎn)品的各鍍層厚度全自動(dòng)X(jué)YZ樣品臺；雷射自動(dòng)對焦、自動(dòng)對位；溫度補償；十字線(xiàn)自動(dòng)調整五種report format可供選擇

金屬鍍層測厚儀可用于測量一般工件、PCB及半導體產(chǎn)品的各鍍層厚度全自動(dòng)X(jué)YZ樣品臺。

X射線(xiàn)測厚儀（XRF-2000）可用于測量一般工件、PCB及半導體產(chǎn)品的各鍍層厚度全自動(dòng)X(jué)YZ樣品臺，雷射自動(dòng)對焦、自動(dòng)對位；溫度補償；有競爭力的價(jià)格；五個(gè)準直器（0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05x0.3mm） XRF2000能提供金屬鍍層厚度的測量，同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析，不單性能*，而且價(jià)錢(qián)*，同比其他牌子相同配置的機器，XRF2000為您大大節省成本。