發(fā)布時(shí)間： 2022-08-21 點(diǎn)擊次數： 525次
KETT 900手提式涂層測厚儀作為檢測涂層厚度的儀器，在管控涂層厚度質(zhì)量的品質(zhì)中起著(zhù)至關(guān)重要的作用，我們在使用涂層測厚儀時(shí)，有時(shí)候測出來(lái)的結果感到有偏差，或者測量用于校正的試件厚度有出入，這是為什么呢？這主要是和測量物體和周?chē)沫h(huán)境有很大的關(guān)系，如果我們按照標準的涂層測厚流程進(jìn)行測量，注意涂層測厚儀使用注意事項，就不會(huì )出現這種問(wèn)題。至于，影響涂層測厚儀精度的因素，主要有（這里不論是磁性法測量還是渦流法測量，影響精度的因素都放在一起）基體金屬磁性質(zhì)、基體金屬厚度、邊緣效益、曲率、試樣的變形、表面粗糙度、磁場(chǎng)、附著(zhù)物質(zhì)、測頭壓力、測頭取向。具體每種因素的說(shuō)明如下：
1、基體金屬磁性質(zhì)：磁性法涂層測厚儀受基體金屬磁性變化的影響（低碳鋼磁性的變化可以忽略），同時(shí)為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準，或者使用待涂覆試件進(jìn)行校準。
2、基體金屬電性質(zhì)：渦流法測厚儀受基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法又有關(guān)聯(lián)。解決方法是使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準（這一點(diǎn)與第一點(diǎn)是相同的，在涂層測厚儀如何校準上都有相關(guān)說(shuō)明）。
3、基體金屬厚度：每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。只要大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。另外，由于每種方法測量時(shí)都有涂層的最小厚度值，所以也需要注意在這個(gè)值以外的涂層厚度是無(wú)法測量出來(lái)的。
4、試件測量邊緣效應：涂層測厚儀儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此不能靠近試件邊緣或者內轉角處進(jìn)行測量，否則測出來(lái)的值會(huì )出現較大偏差。
5、試件曲率：試件曲率對測量是有很大影響，這種影響是隨著(zhù)曲率半徑的減少明顯地增大，即在平面測量比在曲面測量更準確（可以將平面想象為最大曲面就好理解了）。因此，在彎曲程度較大的試件表面上測量涂層厚度值是不準確的。同理，當試件有不同程度的變形也會(huì )導致測量偏差。
6、試件表面粗糙度：基體金屬和覆蓋層表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增加、測量結果影響增加。粗糙表面會(huì )引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時(shí)，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn)；或用對基體金屬沒(méi)有腐蝕的溶液解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點(diǎn)。簡(jiǎn)單理解：試件粗糙度較高相當于有波峰和波谷，測量波峰上的涂層會(huì )比實(shí)際的涂層厚度要小，而波谷上的涂層厚度比實(shí)際的要厚。另外對于涂層的粗糙度，因為儀器測頭是需要緊密貼合涂層測量的，涂層的波峰波谷測量會(huì )影響磁性磁阻的值和電導體上渦流值反饋力的值大小。
7、環(huán)境磁場(chǎng)：測量環(huán)境周?chē)嬖诟鞣N電氣設備所產(chǎn)生的強磁場(chǎng)，會(huì )嚴重地干擾磁性法測厚儀器。渦流法測厚儀當周?chē)嬖诓煌潭鹊母哳l電磁波時(shí)也有影響。
8、試件外表附著(zhù)物質(zhì)：清除試件避免附著(zhù)物質(zhì)，保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
9、測頭壓力：測頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì )影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。我們在實(shí)際測量過(guò)程中，需要使用一定的力道將測頭壓在試件表面，不可過(guò)大或者過(guò)小。
10、測頭的取向：在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直，得到的值是最準的。測頭出現偏差，得到的值都會(huì )偏大。
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