X光測厚儀的十四個(gè)產(chǎn)品特點(diǎn)

　　X光測厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。X射線(xiàn)是無(wú)接觸無(wú)損測量，測量范圍較小，X射線(xiàn)法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。X射線(xiàn)法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。隨著(zhù)技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微機技術(shù)后，采用X射線(xiàn)鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。

　　X光測厚儀的特點(diǎn)：

　　1、測量通過(guò)電腦軟件進(jìn)行操作，方便直觀(guān)；

　　2、除平板形外，還可以測量圓形、棒形（細線(xiàn)）等各種形狀；

　　3、可高精度測量其它方式不易測量的三層以上的鍍層；

　　4、可對測量數據進(jìn)行統計處理，并能輸入電腦進(jìn)行共同管理；

　　5、可制作非破壞式膜厚儀的標準板；

　　6、可檢查非破壞式膜厚儀的測量精度；

　　7、本膜厚儀采用全對話(huà)式操作。因此，只要依照測量條件來(lái)進(jìn)行設定就可測量，非常簡(jiǎn)單；

　　8、由于可儲存不同的測量情況，不必進(jìn)行重復設定；每種測量情況可儲存多個(gè)數據；

　　9、可設定四層鍍層，而每一層均可進(jìn)行統計處理。電位圖形可通過(guò)設定光標自動(dòng)計算多層鎳電位差及每層鎳的厚度，可方便的作成各種格式的電子文檔并打印。制作測量報告易學(xué)，易懂；

　　10、每種鍍層所需的電解液、敏感度及攪動(dòng)標準的選擇，均可由微處理器自動(dòng)判斷、設定；

　　11、標準板校正值的計算和設定可自動(dòng)進(jìn)行；

　　12、由于分解速度差距分得很細，因此在保證測量精度的同時(shí)可大量節省測量時(shí)間；

　　13、可分離測量銅（合金）上的錫（合金）鍍層間的擴散（合金）層；

　　14、測量臺是利用條形彈簧方式，使操作方便簡(jiǎn)單。